IOL與功率循環測試系統
NI SET的IOL與功率循環測試系統適用於矽基、SiC與GaN功率半導體，能協助提升測量品質和傳輸量，同時降低使用開放平台的測試成本，以能順暢監控並精準判定每一個DUT的所有參數。
PRODUCT DESCRIPTION
產品介紹
PRODUCT DESCRIPTION
為滿足功率半導體的使用壽命符合AQG 324和AECQ-101等測試標準，工程師會進行間歇性工作壽命（IOL）試驗和功率循環測試，透過反覆開關DUT並在芯片附近的連接處施加熱應力來評估其性能。NI SET的IOL與功率循環測試系統不僅符合AQG 324與AECQ-101等測試標準，同時具備高產能、高效率、高量測品質特性，確保能協助工程師在執行這類測試時有效提升效率。
ADVANTAGES
產品優勢
ADVANTAGES
密切監控並精確判斷每個DUT的所有參數
全自動化作業流程輔以詳盡的特性分析，透過完整的記錄功能擷取每一次的應力脈衝
根據AQG 324與AECQ-101測試準則進行測試
開放式測試平台，適用於測試矽基、SiC與GaN功率半導體
多個與標準機殼規格相容的抽屜，還能針對不同的基材自訂調整
FUNCTION DESCRIPTION
功能說明
FUNCTION DESCRIPTION
間操性操作壽命(IOL)
進行負載不高於150A的離散元件測試
每個系統最多80個通道，每個抽屜最多8個通道
監控參數：Tc、Iload、Vload、VReverse (VF)、Rth、Tvj (Tjmax – Tjmin)
測試系統符合MIL-STD-750D標準
功率循環機
兩個電流路徑最多12個量測通道，閘極驅動電壓範圍從-18到+20V
PSU輸出30V時，負載電流最高1000A
最多6個獨立冷卻電路，可自動控制流量與監控溫度
監控參數：Iload、Vf、Vgs、Tvj、Tc/s、Rth、Tcool、Qcool、應力路徑電壓
