PRODUCT DESCRIPTION
產品介紹
PRODUCT DESCRIPTION
AEM AFORE提供專為微機電(MEMS)設計的全面測試產品，包括晶圓探針測試、多種激勵方式和封裝選項的測試機以及三溫測試。與傳統的Pick & Place方式不同，KRONOS使用Ring Frame進行測試，可以避免元件損傷並提高生產效率。AEM AFORE的解決方案使客戶能夠在晶片級封裝(CSP)的先進封裝製程中進行晶圓級的最終測試，簡化生產製造流程，並將測試成本降到最低。
FEATURES
產品特色
FEATURES
可處理晶圓尺寸高達200mm
具有極高的多站點測試能力
自動化操作系統，可使晶圓或框架從晶圓盒移動到探針測試區進行測試，完成測試後再裝載回晶圓盒
可選配的溫度吸盤系統及對應探針配件
FUNCTION DESCRIPTION
功能說明
FUNCTION DESCRIPTION
AEM AFORE KRONOS慣性感測器晶圓探針系統可應用於以下產品最終測試和校正：
加速度計
磁力計
陀螺儀
電子指南針
