產品介紹
PHEMOS-X是一款高解析度的微光顯微鏡,透過偵測半導體元件缺陷所造成的微弱光發射和熱發射來精確定位故障位置。
由於PHEMOS-X可與通用針測機結合使用,因此可以使用已經熟悉的樣品設定來執行各種分析任務,安裝可選的雷射掃描系統可獲得高解析度的圖像,不同類型的檢測器可用於各種分析技術,例如發射分析、熱分析和IR-OBIRCH分析。PHEMOS-X支援從針測機插座板到大尺寸300 mm晶圓針測機的多種任務和應用。
產品特色
光學平台工作範圍 | |
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X:± 20mm |
*由於所使用的探針及樣品台或NanoLens的安裝可能會干擾, 工作範圍可能比這些值更小。 |
Y:± 20mm | |
Z:± 80mm |
產品優勢
缺陷快速定位
功能說明
功能 | 特性 |
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OBIRCH |
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EMMI相機 |
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電流檢測頭 |
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- 電動鏡頭轉盤可以搭載5個物鏡
- 有3種微距鏡頭可供選擇,系統上只能安裝一個微距鏡頭
- Objective lens
Product Name | Product No. | N.A. |
WD (mm) |
Analysis |
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Objective lens 1x for OBIRCH | A7649-01 | 0.03 | 20 | OBIRCH |
Objective lens 2x IR coat | A8009 | 0.055 | 34 | Emission / OBIRCH |
Objective lens NIR 5x | A11315-01 | 0.14 | 37.5 | Emission / OBIRCH |
Objective lens NIR 20x | A11315-03 | 0.4 | 20 | Emission / OBIRCH |
Objective lens PEIR Plan Apo 20x 2000 | A11315-21 | 0.6 | 10 | Emission / OBIRCH |
Objective lens PEIR Plan Apo 50x 2000 | A11315-22 | 0.7 | 10 | Emission / OBIRCH |
High NA objective lens 50x for IR-OBIRCH | A8018 | 0.76 | 12 | OBIRCH |
Objective lens NIR 100x | A11315-05 | 0.5 | 12 | Emission / OBIRCH |
Objective lens MWIR 0.8x | A10159-02 | 0.13 | 22 | Thermal emission |
Objective lens MWIR 4x | A10159-03 | 0.52 | 25 | Thermal emission |
Objective lens MWIR 8x | A10159-06 | 0.75 | 15 | Thermal emission |
-
Macro lens
Product Name | Product No. | N.A. |
WD (mm) |
Analysis |
---|---|---|---|---|
Macro lens 1.35x for PHEMOS-X | A7909-16 | 0.4 | 25 | Emission / OBIRCH |
Macro lens 0.24x for InSb camera | A10159-08 | 0.08 | 27 | Thermal emission |
Macro lens 1x for InSb camera | A10159-10 | 0.33 | 52 | Thermal emission |
產品規格
PHEMOS-X | |||
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Dimensions / Weights | Main Unit |
1656 mm (W) × 2000 mm (H) × 1247 mm (D) Approx. 1640 kg |
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Operation Desk*1 |
1000 mm (W) × 700 mm (H) × 800 mm (D) Approx. 39.2 kg |
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1480 mm (W) × 700 mm (H) × 800 mm (D) Approx. 48.6 kg |
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Line Voltage | Single phase 200 V to 240 V | ||
Power Consumption | Approx. 3300 VA | ||
Vacuum | 80 kPa or more | ||
Compressed Air*2 | 0.6 MPa to 0.7 MPa |
*1: Option
*2: Including a regulator