DGS功率半導體測試系統
NI SET的DGS功率半導體測試系統透過用途導向的動態閘極應力測試，找出SiC和GaN寬能隙材料在傳統測試方法測不出的故障影響。
PRODUCT DESCRIPTION
產品介紹
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DGS測試系統可將工業級的延伸需求轉換為自動化的動態測試並提供靈活彈性，可迅速因應千變萬化的需求。除了刺激源之外，DGS測試系統也提供多種原位量測作業，適用於決定特定期間內的相關參數。原位量測能有效顯示動態閘極應力對閘極氧化層的長期影響，也能支援提供精確的報表給客戶。
FEATURES
產品特色
FEATURES
最多支援 240 個DUT，冷熱板溫度範圍介於 20°C 到 200°C
提供最高 1.5kV 的高壓汲極刺激源與最高 1500V 的最高汲極電壓，兩者皆可透過軟體進行設定
有高達 1V/ns 的閘道 dV/dt 刺激源，且可透過軟體設定最高 ±30V 的電壓
提供 0Hz 至 500kHz 的可設定輸出頻率，工作週期設定介於 25% 到 75% 之間，按 5% 增減
支援以特定用途的閘極驅動器進行測試，進行目標評估
