ATE連結系統

Turbodynamics的ATE連結系統廣泛支援主流IC自動測試機(Advantest, Teradyne, Cohu, NI等)，並且採用專利的TD P-Docking接合技術(半自動接合機制，接合力超過450kg)。高效能的接合設計不僅有效提升測試系統機構的穩定性，還顯著降低維護成本。

PRODUCT DESCRIPTION

產品介紹

PRODUCT DESCRIPTION

晶圓測試(CP) ATE連結系統	最終測試(FT) ATE連結系統
Turbodynamics的直接連結系統適用於8吋和12吋針測機，免維護及高度自動化的設計，可有效解決訊號性能差、生產空間不足以及新設備的高成本三大自動測試設備問題。	Turbodynamics的連結系統操作安全、友善且具高精確度，可用於多種品牌的分類機、針測機及測試機。P-Dock^Ⓡ和F-Dock夾持系統以其專利技術廣泛應用於半導體行業。

FEATURES

FEATURES

【晶圓測試(CP) ATE連結系統】

Towerless Probe Docking		Universal Prober Head Plate
8吋晶圓針測機	12吋晶圓針測機	12吋晶圓針測機
氣動系統隨插即用輕鬆連結針測機 (主從原則) 備有感測器支援的錯誤預防精準連結，重複性<10 μm 連結強度超過5000N 簡易操作，免維護提供三溫測試最佳性能預先對準定位或鎖定實現最佳目標捕捉符合所有標準的測試系統與常見OEM測試機、連結機構相容適用於TEL、Accretech、Semics、Elektroglas等設備		模組化設計適用於Turbodynamics Direct Dockings 適用於所有OEM Direct Dockings 適用於Pogo Tower解決方案獨立探針供應商可升級現有針測機

【最終測試(FT) ATE連結系統】

P-Dock^Ⓡ	F-Dock
氣動系統備有感測器支援的錯誤預防精準連結，重複性<10 μm 連結強度超過5000N 最小化Z-Stack 簡易操作，免維護預先對準定位功能適用於廣泛的測試系統	無需電力及氣壓支援機械系統堅固設計無需額外硬體即可調整連結距離消除連結過程中的測試頭彈跳效應獨步全球的可變式機械鎖定系統可適應所需的Z-Stack 可單人操作

P-Dock^Ⓡ

F-Dock