蔚華科技的SP2500測試機擁有卓越的性能和靈活的配置，能夠滿足各類SoC應用的測試需求！
SP2500以其每秒250MHz的高速測試頻率和4ns的循環率，確保即使在最具挑戰性的測試場景下，也能提供穩定和精確的測試結果。多合一的數位板卡（包括Digital、DPS、GPMU、TMU、HV）不僅節省空間，還提高了系統整體效能。
此外，無論是小型批量還是大規模生產，SP2500系列提供多種機型選擇，可根據您的生產需求靈活配置，確保最佳的生產效率。
IGBT Test Solution
ShibaSoku provides the most advanced ATE for power devices, meeting the needs for high voltage (2000V) and high current (6000A) product tests. The test system supports KGD (Known Good Die) chip test to improve yield for MCP (Multi-Chip Package) or SiP (System-in-Package), reducing packaging costs caused by waste from Bad Die.
PRODUCT DESCRIPTION
產品介紹
PRODUCT DESCRIPTION
半導體設備廠蔚華科（3055）SP2500 - SoC 測試解決方案
FEATURES
產品特色
FEATURES
250MHz高速測試頻率 (Clock Rate, 4ns cycle rate)
多合一的數位板卡 (Digital+DPS+GPMU+TMU+HV)
- GPMU採用 Floating Ground，可串接提供高電壓
- GPMU的電壓精準度達0.5mV，可滿足各種測試需求
- GPMU採用 Floating Ground，可串接提供高電壓
- GPMU的電壓精準度達0.5mV，可滿足各種測試需求
提供最高到+42V的 Force / Measure VI
ADVANTAGES
產品優勢
ADVANTAGES
最適化的量產配置，可選擇不同測試機型號：
- SP2500-Q (3-slot)／SP2500-H (5-slot)／SP2500-A (9-slot)
- 兼容多家測試機的測試載板(LB、Probe Card)
- SP2500-Q (3-slot)／SP2500-H (5-slot)／SP2500-A (9-slot)
- 兼容多家測試機的測試載板(LB、Probe Card)
獨立式板卡架構可提升測試效率，優化測試時間
最通用的C++程式開發環境和好用的圖形化除錯工具
FUNCTION DESCRIPTION
功能說明
FUNCTION DESCRIPTION
DIGI
128 數位通道(per slot)，最高1152個通道(9 slot)
250MHz clock rate，支援 free run clock
8 DPS + 8 GPMU + 8 TMU + 8 HV
DPS：
每個通道1A，可連接到8A
向量深度：
128M
SCAN深度：
4G
Capture Memory深度：
64M
EPA：
±200ps
EPR：
78ps
GPMU Accuracy：
0.01%+0.5mV (4 wire connection)
DPSI
64通道 device power supply (per slot)
4 wire connection / ch
0.5V ~ 3V @ 1A
-3V ~ 8V @ 0.5A
通道可以合併，最高支援到64A
MIXI
4通道 HS AWG 400Msps／16 bits
4通道 HS DIG 125Msps／16 bits
4通道 HR AWG 1Msps／24 bits
4通道 HR DIG 216Ksps／24 bits
MVPI
32通道 VI force/measure (per slot)
-1V ~ +42@±100mA
-10V ~ +15@±250mA
PRODUCT SPECIFICATIONS
產品規格
PRODUCT SPECIFICATIONS
Model Number
SP3055A
Model Name
JadeSiC-NK,non-destructive inspection system for SiC killer defects (BPD/TSD/MP/SF),the best substitution KOH etching method.
SiC Substrate/EPI Wafer Size
2” 4” 6” 8”
Wafer Thickness
300 μm - 550 μm
Chuck
XY Stage Repeatability : 0.1 μm
Inspection Items
Whole Wafer Defect Scan (MicroPipe,BPD,TED,TSD,SF,etc.)
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