GaN RF Tester

GaN RF Tester is a Gallium Nitride (GaN) characteristic testing equipment that can support 200V high-voltage testing and control channel changes during G/D potential analysis transition. The channel supports DC Pulse Mode characteristic testing and can be used with VNA for RF S-parameter curve analysis.
PRODUCT DESCRIPTION

PRODUCT DESCRIPTION

ALL_marqueepic_catalog_jetek_products_ins_24I10_pWQ5CqqdHb

FEATURES

FEATURES

GaN I/V Characteristic curve measurement
Support obtaining 1M ~ 20G RF S-parameter/P-parameter
4 channel high voltage/high current SMU
Support DC-Pulse mode measurement
Programmable test process
PRODUCT SPECIFICATIONS

PRODUCT SPECIFICATIONS

High Current Specification
DC voltage ranges

600mV

6V

60V

DC current source and sink ranges

1µA

10µA

100µA

1mA

10mA

100mA

1A

3A

10A, pulse only

High Voltage Specification
DC voltage ranges

600mV

6V

20V

200V

DC current source and sink ranges

10nA

1µA

100µA

1mA

10mA

100mA

1A

3A

依據歐盟施行的個人資料保護法,我們致力於保護您的個人資料並提供您對個人資料的掌握。
按一下「全部接受」,代表您允許我們置放 Cookie 來提升您在本網站上的使用體驗、協助我們分析網站效能和使用狀況,以及讓我們投放相關聯的行銷內容。您可以在下方管理 Cookie 設定。 按一下「確認」即代表您同意採用目前的設定。

Manage Cookies

Privacy Preference Center

依據歐盟施行的個人資料保護法,我們致力於保護您的個人資料並提供您對個人資料的掌握。
按一下「全部接受」,代表您允許我們置放 Cookie 來提升您在本網站上的使用體驗、協助我們分析網站效能和使用狀況,以及讓我們投放相關聯的行銷內容。您可以在下方管理 Cookie 設定。 按一下「確認」即代表您同意採用目前的設定。

View privacy policy

Manage Consent Settings

Necessary Cookies

All enabled

網站運行離不開這些 Cookie 且您不能在系統中將其關閉。通常僅根據您所做出的操作(即服務請求)來設置這些 Cookie,如設置隱私偏好、登錄或填充表格。您可以將您的瀏覽器設置為阻止或向您提示這些 Cookie,但可能會導致某些網站功能無法工作。