CIS WLBS Tester

CIS WLBS Tester is a CIS characteristic testing machine that can control the light source for QE testing. It also has a large memory space to support LAG and Temporal Noise measurements. It is equipped with 32 channels of SMU and can set different power supplies for CIS product characteristic analysis.
FEATURES

FEATURES

Support DVP Test (100MHz pixel clock)
Support MIPI Test (4 lane, up to 1.5G/per lane) x2
Support FPGA Image Processing
Support SPAD (Single Photon Avalanche Diode) Test
Support Spectrometer to QE Measurement
Support Light Source Correction
PRODUCT SPECIFICATIONS

PRODUCT SPECIFICATIONS

Support Item
Means / STD
Dead line check
Color Ratio
Uniformity
Dead pixel count
Cluster count
TMF /RMF
 
Total 32 Channel SMU Per-channel Specification
Channels 0 through 3
DC voltage range ±10V
DC current source and sink ranges

10µA

100µA

1mA

10mA

100mA

PXle-4139 Specification
DC voltage range

600mV

6V

60V

DC current source and sink ranges

1µA

10µA

100µA

1mA

10mA

100mA

1A

3A

10A, pulse only

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