IOL与功率循环测试系统
NI SET的IOL与功率循环测试系统适用于硅基、SiC与GaN功率半导体，能协助提升测量品质和传输量，同时降低使用开放平台的测试成本，以能顺畅监控并精准判定每一个DUT的所有参数。
PRODUCT DESCRIPTION
产品介绍
PRODUCT DESCRIPTION
为满足功率半导体的使用寿命符合AQG 324和AECQ-101等测试标准，工程师会进行间歇性工作寿命（IOL）试验和功率循环测试，通过反复开关DUT并在芯片附近的连接处施加热应力来评估其性能。NI SET的IOL与功率循环测试系统不仅符合AQG 324与AECQ-101等测试标准，同时具备高吞吐率、高效率、高测量质量特性，确保能协助工程师在执行这类测试时有效提升效率。
ADVANTAGES
产品优势
ADVANTAGES
无缝监控并精准确定每台DUT的所有参数
在全自动流程中，利用全面记录功能捕获单个应力脉冲，并进行完整特性分析
根据AQG 324和AECQ-101测试指南进行测试
开放式测试平台，适用于测试硅基、SiC和GaN功率半导体
多个与标准外壳规格兼容的抽屉，以及适用于各种衬底的定制改装方案
FUNCTION DESCRIPTION
功能说明
FUNCTION DESCRIPTION
间歇工作寿命试验(IOL)
进行负载不高于150A的离散器件测试
每个系统多达80个通道，每个抽屉单元8个通道
监控参数：Tc、Iload、Vload、VReverse (VF)、Rth、Tvj (Tjmax – Tjmin)
测试系统符合MIL-STD-750D标准
功率循环测试
两个电流路径多达12个测量通道，栅极驱动电压范围为-18至+20V
PSU输出30V时，负载电流最高1000A
多达6个独立冷却回路，可自动控制流量和监控温度
监控参数：Iload、Vf、Vgs、Tvj、Tc/s、Rth、Tcool、Qcool、应力路径电压
