纳米探针

纳米探针是目前先进半导体制程中进行电性量测的重要工具,大量应用于研发阶段与失效分析。
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产品介绍

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纳米探针大量应用于研发阶段与失效分析。

当制程进入10纳米以下,所需要使用的探针规格要求越来越高,埃尔思科技能提供高质量纳米探针(距离针尖50纳米的位置,探针直径小于30纳米),能胜任3纳米制程失效分析的需求。
FEATURES

产品特色

FEATURES
广泛应用于研发阶段与失效分析
探针距离针尖位置的直径小于30纳米
能满足3纳米制程失效分析的需求

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