PRODUCT DESCRIPTION
产品介绍
PRODUCT DESCRIPTION
AEM AFORE提供专为微机电(MEMS)设计的全面测试产品，包括晶圆探针测试、多种激励方式和封装选项的测试机以及三温测试。与传统的Pick & Place方式不同，KRONOS使用Ring Frame进行测试，可以避免器件损伤并提高生产效率。AEM AFORE的解决方案使客户能够在芯片级封装(CSP)的先进封装制程中进行晶圆级的最终测试，简化生产制造流程，并将测试成本降到最低。
FEATURES
产品特色
FEATURES
可处理晶圆尺寸高达200mm
具有极高的多站点测试能力
自动化操作系统，可使晶圆或框架从晶圆盒移动到探针测试区进行测试，完成测试后再装载回晶圆盒
可选配的温度吸盘系统及对应探针配件
FUNCTION DESCRIPTION
功能说明
FUNCTION DESCRIPTION
AEM AFORE KRONOS惯性传感器晶圆探针系统可应用于以下产品最终测试和校正：
加速度计
磁力计
陀螺仪
电子指南针
