DGS功率半导体测试系统
NI SET的DGS功率半导体测试系统透过用途导向的动态闸极应力测试，找出SiC和GaN宽禁带材料在传统测试方法测不出的故障影响。
PRODUCT DESCRIPTION
产品介绍
PRODUCT DESCRIPTION
DGS测试系统可将工业级的延伸需求转换为自动化的动态测试并提供灵活弹性，可迅速因应千变万化的需求。除了刺激源之外，DGS测试系统也提供多种原位量测作业，适用于决定特定期间内的相关参数。原位量测能有效显示动态闸极应力对闸极氧化层的长期影响，也能支持提供精确的报表给客户。
FEATURES
产品特色
FEATURES
最多支援 240 个DUT，冷热板温度范围介于 20°C 到 200°C
提供最高 1.5kV 的高压汲极刺激源与最高 1500V 的最高汲极电压，两者皆可透过软件进行设定
有高达 1V/ns 的闸道 dV/dt 刺激源，且可透过软件设定最高 ±30V 的电压
提供 0Hz 至 500kHz 的可设定输出频率，工作周期设定介于 25% 到 75% 之间，按 5% 增减
支持以特定用途的闸极驱动器进行测试，进行目标评估
