ATE连接系统

Turbodynamics的ATE连结系统广泛支援主流IC自动测试机(Advantest, Teradyne, Cohu, NI等)，并且采用专利的TD P-Docking接合技术(半自动接合机制，接合力超过450kg)。高效能的接合设计不仅有效提升测试系统机构的稳定性，还显著降低维护成本。

PRODUCT DESCRIPTION

产品介绍

PRODUCT DESCRIPTION

晶圆测试(CP) ATE连结系统	最终测试(FT) ATE连结系统
Turbodynamics的直接连结系统适用于8寸和12寸探针台，免维护及高度自动化的设计，可有效解决信号性能差、生产空间不足以及新设备的高成本三大自动测试设备问题。	Turbodynamics的连结系统操作安全、友善且具高精确度，可用于多种品牌的分选机、探针台及测试机。P-Dock^Ⓡ和F-Dock夹持系统以其专利技术广泛应用于半导体行业。

FEATURES

FEATURES

【晶圆测试(CP) ATE连结系统】

Towerless Probe Docking		Universal Prober Head Plate
8寸晶圆探针台	12寸晶圆探针台	12寸晶圆探针台
气动系统随插即用轻松连结探针台 (主从原则) 备有感测器支援的错误预防精准连结，重复性<10 μm 连结强度超过5000N 简易操作，免维护提供三温测试最佳性能预先对准定位或锁定实现最佳目标捕捉符合所有标准的测试系统与常见OEM测试机、连结机构相容适用于TEL、Accretech、Semics、Elektroglas等设备		模组化设计适用于Turbodynamics Direct Dockings 适用于所有OEM Direct Dockings 适用于Pogo Tower解决方案独立探针供应商可升级现有探针台

【最终测试(FT) ATE连结系统】

P-Dock^Ⓡ	F-Dock
气动系统备有感测器支援的错误预防精准连结，重复性<10 μm 连结强度超过5000N 最小化Z-Stack 简易操作，免维护预先对准定位功能适用于广泛的测试系统	无需电力及气压支援机械系统坚固设计无需额外硬体即可调整连结距离消除连结过程中的测试头弹跳效应独步全球的可变式机械锁定系统可适应所需的Z-Stack 可单人操作

P-Dock^Ⓡ

F-Dock