QE System

CMOS QE测试平台,可控制光源波长,并结合图像采集卡进行QE测试。该设备能够控制光的入射角度,获取零件在不同角度下的分析数据。
FEATURES

产品特色

FEATURES
Sensor放置平台角度

响应量测解决方案

支持分光仪进行QE量测

包含光源校正功能

 

 
PRODUCT SPECIFICATIONS

产品参数

PRODUCT SPECIFICATIONS
QE System Specification
Light Intensity Control 100 - 30 (steps)
F-number F/4.6
Wavelength Range 350 -1800nm (Effective Range)

放置平台移动

X - 电控 ±12.5mm / 0.01mm
Y - 电控 4-3
Z - 电控 4-3
放置平台旋转 电控 粗调 ±90° / 0.1°
细调 360° / 0.1°
光源组调控能力 Z - 手动 140mm
自动化软硬集成能力 红外线自动对准Sensor轴
旋转控制

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